Detektor für bessere elektronenmikroskopische Bilder Forschende im Nano-Argovia-Projekt HiZfEM haben begonnen einen neuen Hybrid-Pixeldetektor mit verbesserter Bildqualität für die Transmissions-Elektronenmikroskopie zu entwickeln. Der neue Elektronendetektor besteht wie aktuelle Modelle aus zwei separaten Schichten, in denen die Detektorschicht vom Auslesechip getrennt ist. Im allgemeinen werden hier relativ dicke Siliziumsensoren als Detektorschicht eingesetzt, um die ausgeklügelte Ausleseelektronik von den einfallenden hoch- energetischen Elektronen zu schützen. Jedoch limitieren diese dicken Siliziumsensoren die Bildgebungsqualität durch Mehr- fachstreuung im Sensor. Im Nano-Argovia-Projekt HiZfEM hat das interdisziplinäre Team nun jedoch Chrom dotiertes Galliumarsenid (GaAs) als Detektormaterial verwendet. Die Forschenden haben im ersten Projektjahr mehrere Bauteile hergestellt und mithilfe von Pho- tonen charakterisiert. Sie haben die Datenanalyse vorangetrie- ben und konnten bereits zeigen, dass sich eine deutliche Ver- besserung der Bildauflösung erzielen lässt. Erste Versuche an einem Elektronenmikroskop verliefen bereits vielversprechend. Kooperation von: Paul Scherrer Institut PSI // Biozentrum, Universität Basel // DECTRIS AG (Baden, AG) Projektbeschreibung: https://bit.ly/4adZ6ZA «Wir sind begeistert am HiZfEM Projekt mitzuarbeiten, in dem unser hochentwickeltes GaAs Material eine entschei dende Rolle spielen wird, um die Grenzen in der Elektronen mikroskopie zu verschieben. Diese Zusammenarbeit mit ge schätzten Institutionen wie dem Paul Scherrer Institut und der Universität Basel unter streicht unser Bekenntnis wis senschaftlichen Fortschritt vor anzutreiben und stärkt unsere Position an der Spitze der Entwicklung von Hybrid Pixel detektoren.» Dr. Sonia Fernandez, DECTRIS AG Das Team im Nano-Argovia-Projekt HiZfEM hat unter anderem die notwendigen elektronischen Bauteile hergestellt, um den neuen Hybrid-Pixel- detektor in Betrieb zu nehmen. Die Forschenden erwarten durch das neue Detektormaterial (Chrom dotiertes Galliumarsenid) deutlich besser aufgelöste elektronenmikroskopische Bilder zu generieren. 38 SNIJahresbericht 2024