So seh Rastertunnelmikroskope (STM) werden zur Untersuchung en leitender oder halbleitender Materialien verwendet. Atom Dabei wird eine leitende Spitze nah an die Probe gebracht. Noch bevor e au sich Probe und Sonde berühren 昀氀iesst zwischen ihnen ein Tunnelstrom. s Die Mikroskopspitze tastet während der Messung die Probe ab. Für jeden . abgerasterten Punkt auf der Probenober昀氀äche gibt der gemessene Tun- nelstrom Aufschluss über den Abstand zur Spitze. Die Information wird mittels Computer zu einem digitalen Gesamtbild zusammengesetzt. Mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) können nicht- leitende Materialien wie biologische Proben in ih- rer natürlichen Umgebung untersucht werden. Das AFM besitzt einen Federbalken mit scharfer Spitze, die über die Ober昀氀äche der Probe gerastert wird. Zwischen der Spitze und der Probe wirken anziehende und abstossende Kräfte, die den Federbalken ablenken. Ein auf dem Federbal- ken re昀氀ektierender Laserstrahl in Kombination mit einem Pho- tosensor misst die Verkrümmung. Diese Messwerte werden auch beim AFM Punkt für Punkt zu einem digitalen Bild zusammenge- setzt. Sowohl mit dem Rasterkraftmikroskop als auch mit dem Rastertunnelmikros- kop können Forschende einzelne Atome abbilden. Daneben können die Mikros- kopspitzen auch als Sensoren eingesetzt werden und verschiedene physikalische und chemische Parameter messen. 13